一、概述

DT-220、DT-230、DT-240此類儀器采用磁性測厚方法，可無損傷地檢測磁性金屬基鐵（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。

DT-220F、DT-230F此類儀器采用渦流測厚方法，可無損傷地檢測非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等）。

DT-260、DT-280此類儀器采用磁性、渦流兩種測厚方法，可無損傷地檢測磁性金屬基鐵（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等）。

本儀器廣泛地應(yīng)用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護專業(yè)*的儀器。

二、儀器符合標準

DT-220、DT-230、DT-240、DT-260、DT-280此類儀器符合GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測量（磁性方法）。

DT-220F、DT-230F、DT-260、DT-280此類儀器符合GB/T 4957-1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測量（渦流方法）。

DT-260、DT-280此類儀器符合JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測厚儀。

三、測量原理

1、磁性法

當測頭與覆層接觸時，測頭與磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆層的存在，使磁路磁阻發(fā)生變化，通過測量其變化量，可測得其覆層的厚度。

2、渦流法

利用高頻交變電流線圈中產(chǎn)生一磁場，當測頭與金屬接觸時，金屬基體上會產(chǎn)生渦流，并對測頭具有反饋作用，通過其反饋作用的大小可測出覆層厚度。

四、特點

1、便攜設(shè)計，手掌大小。

2、采用高速的DSP芯片，具有快速的測量能力。

3、人性化設(shè)計，簡單操作。

4、在雙用探頭時自動識別鐵基和非鐵基材質(zhì)，無需手動轉(zhuǎn)換。

5、兩種校準方式，零點校準和二點校準。

6、寬角度LCD液晶顯示。

7、公制和英制單位轉(zhuǎn)換。

8、具有電源欠電壓提示。

9、操作過程有蜂鳴聲提示。

10、具有自動關(guān)機功能。

五、規(guī)格參數(shù)

.1.

六、技術(shù)參數(shù)

七、顯示說明

• μm表示測量單位微米。
• mil表示測量單位密耳。
• CAL表示校準提示。
• Fe表示磁性基體測量狀態(tài)。
• NFe表示非磁性基體測量狀態(tài)。
• 8.8.8.8 表示測量厚度顯示區(qū)。

7、提示電源欠電壓。

八、測量時注意事項

1、基體金屬特性

1.1對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

1.2對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

2、基體金屬厚度:檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，進行校準后，可以測量。

3、邊緣效應(yīng):不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。

4、曲率:不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。

5、讀數(shù)次數(shù):通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量，表面粗造時更應(yīng)如此。

6、表面清潔度:測量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

7、磁場:周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的磁場會嚴重干擾磁性測厚工作。

8、測頭取向:測頭的放置方式對測量有影響，在測量時應(yīng)該與工件保持垂直。

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九、使用說明

1、開機：按下ON鍵后儀器聽到一聲鳴響，屏幕上顯示儀器編號GO8100。自動恢復(fù)上次關(guān)機前的參數(shù)設(shè)置后，將顯示0，儀器進入待測狀態(tài)。可測量工件了。經(jīng)過一段時間不使用儀器將自動關(guān)機。

2、測量：儀器會自動感應(yīng)被測基體：感應(yīng)到是磁性基體時儀器顯示Fe；感應(yīng)到是非磁性金屬是儀器顯示NFe。測量時要手拿儀器手柄凹形處，探頭垂直于所測量的金屬表面并迅速按下，待蜂鳴聲響后才拿起儀器！

3、零位校準：在待測狀態(tài)下將探頭垂直壓在基準塊上，之后屏幕上會顯示<╳.╳μm>，然后按下“ZERO”鍵進行零位校準。在上述過程中探頭一直壓在基體上，直到屏幕顯示（0 CAL）后才能提起探頭。重復(fù)零校準可獲得更為的零點。

注：因我們提供的Fe片和Al片的材質(zhì)與貴司的基材不*相同即零位并不一樣，因此zui科學(xué)的方法是在貴司實際工件光潔底材上做零位校準！

4、兩點校準

1、先校準零位。方法同零位校準。

2、將標準膜片放在基準塊上，用儀器測出其值。若顯示屏上測量值與標準膜片不同，則可使用▲、▼來修正讀值，使其達到標準。校準完成，可以開始測量。用▲、▼來修正讀值時請?zhí)崞鹛筋^！

5、如果儀器顯示數(shù)值出現(xiàn)混亂或死機，需進行恢復(fù)出廠設(shè)置。見以下第十一條“保養(yǎng)與故障處理”的第3小條操作，即可進行正常測量。

十、使用操作步驟

1、同時按住“▲”和“ON”鍵。

2、放開“ON”鍵。

3、待屏幕上會出現(xiàn) “O”時再松開“▲”，屏幕便顯示FE,儀器進入測頭選擇狀態(tài)。

4、每按“▲”鍵一次可選擇一次，可依次選擇磁性/鐵基型（屏幕顯示Fe）、渦流/非鐵型（屏幕顯示NFe）、 兩用自動型（屏幕顯示Fe NFe）。

5、按“ZERO”鍵確認所選測頭狀態(tài)。儀器復(fù)位后進入所選測頭狀態(tài)進行測量。

十一、保養(yǎng)與故障處理

1、環(huán)境要求:嚴格避強磁場、油污、重塵、潮濕、重撞。

2、更換電池:儀器長期不使用時應(yīng)取出電池。當儀器出現(xiàn)低電壓提示時應(yīng)更換電池，更換電池時請注意極性。請使用正規(guī)廠家生產(chǎn)的電池，可以避免因電池漏液而導(dǎo)致機器故障。

3、故障排除:出現(xiàn)較大誤差（如：校準不當或有操作錯誤等）時可按以下步驟恢復(fù)出廠設(shè)置。

先同時按住 “ON”和“μm/mil”鍵，先放開 “ON”鍵，然后放開“μm/mil”屏幕顯示“8888”時，再按“ON”恢復(fù)出廠設(shè)置成功，儀器正常使用。

十二、出廠清單